産業用IoTアプリ向け分析基盤、作業時間の短縮に貢献：FAニュース

米ロックウェル・オートメーションは、産業用IoTアプリケーション向けの分析プラットフォーム「Project Scio」を発表した。自動検出プロセスでマッピング作業時間を短縮し、工程中にエラーが発生するリスクも低減できる。

[MONOist]

　米ロックウェル・オートメーションは2017年11月6日、産業用IoT（IIoT）アプリケーション向けの分析プラットフォーム「Project Scio」を発表した。同プラットフォームにより、企業内の全てのデータソースに個人ごとにアクセスでき、高度な分析が実施可能になる。

　Project Scioは、同社のデバイスやサードパーティーのデータを自動的に検出・タグ付けし、マッピング作業時間を短縮。工程中にエラーが発生するリスクも低減する。この自動検出プロセスは、手動マッピングと比較して、デバイス名やラインの位置、プラントの場所など、より詳細な情報にアクセスできる。

　SparkML、MLLib、Pythonなど、さまざまなアルゴリズムに対応が可能。機械学習あるいは定義済みの設定によってプラットフォームが動作をモニタリングし、プロセッサが許容範囲を超えると自動的に最適な制御を開始する。

　また、データソースへの接続を一度確立すれば、データサイエンティストのサポートがなくても、データを継続的かつ好きな頻度で更新できる。拡張性の高いオープンプラットフォームのため、産業IoTデータソースのエコシステムへと拡張できる。

　この他、同社はネットワークの保全、セキュリティ、インフラの設計とメンテナンス、予測保守を含む機器の遠隔監視を確実に実行できる、接続サービスを提供する。