表示分解能0.1μmの高機能フィルム・電子部品向け高精度位置計測センサー：FAニュース

アズビルは、高機能フィルムや電子部品などの加工・組み立ての製造工程で、対象物の位置、厚み、幅などを高精度に計測する位置計測センサー「K1G」シリーズを発売した。0.1μmの表示分解能と250μsの高速な計測周期を可能にした。

[MONOist]

　アズビルは2015年1月21日、高機能フィルムや電子部品などの加工・組み立ての製造工程で、対象物の位置・厚み・幅などを高精度に計測する位置計測センサー「K1G（ケーワンジー）」シリーズを発売した。

　位置計測センサーは、各種の製造装置内に設置され、フィルムの蛇行や厚みの計測、ガラス基板の位置計測・異常判別、電子部品の異品種混入判別など、幅広い用途に使用されている。こうした加工組み立て産業の現場では、品質・生産性のさらなる向上が求められているという。

　K1Gシリーズは、同社独自のアルゴリズムと演算性能を大幅に向上させ、同等クラスの製品で最高レベルという表示分解能（0.1μm）と高速な計測周期（250μs）を可能にした。これにより、従来では困難だった微小な変化や高速の変化の計測ができ、これまで見落としていた小さな変化も検出できる。

　また、計測までの作業時間を削減するため、装置の稼働前にセンサーの結線状態を確認できる「ユーザテストモード」や、異常発生時のデータを保存する「データログ機能」などの新機能を搭載した。計測前の準備や異常時の原因究明と対策にかかる時間を削減できるため、稼働率の向上につながるという。

左から、K1Gシリーズ（センサーヘッド（左）とコントローラ）、【アプリケーション例】フィルム蛇行計測

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