複合的な要因による不良の原因特定も可能になる次世代品質管理システム：FAニュース

オムロンは、現行の品質管理システム「Q-upNavi」シリーズが備える不良分析の仕組みをさらに発展させた「Q-upAuto」を2016年12月に発売する。

[MONOist]

　オムロンは2016年5月18日、プリント基板の実装ラインにおいて、検査情報と設備の稼働情報を一元管理する次世代品質管理システム「Q-upAuto」を開発したと発表した。同年12月に発売する計画だ。

　Q-upAutoは、現行の品質管理システム「Q-upNavi」シリーズが備える不良分析の仕組みをさらに発展させた。最終工程に設置する外観検査装置「VT-S730」から得られる定量的な検査結果と設備の稼働情報をひも付けることで、印刷／実装／リフローなどの工程で発生する不良発生プロセスが、複合的な要因であっても特定可能になる。さらに、最終品質となる検査結果を踏まえ、良品を作る上で最適な設定条件（パラメータ）を設備ごとに抽出する機能も追加した。

　具体的な活用例としては、実装機が原因で起きた不良を検出した際には、即座に通知してくれる。一覧表示される不良部品と実装情報を参照することで、調査対象部位をピンポイントで突き止められるようになる。

　また、部品の搭載ずれ量のばらつきが大きくなった際など、実装機と関連する品質低下を検出した際にも通知が入る。不良の未然防止につながる上、実装機部材のメンテナンス時期の把握にも役立つという。

　他に、実装機の作業情報を収集して作業前後の品質を比較し、その結果を自動保存する機能も備えた。実施した作業が品質に与えた影響を確認でき、実装機に加えた変更や実施した作業の適切さを容易に検証・説明できるようになるとしている。

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