小型ICを高速かつ安定的にハンドリングする新型ICテストハンドラー：FAニュース

セイコーエプソンは、独自のロボット制御技術「スマートモーションコントロール」を採用した、新型ICテストハンドラー「NS8040SH」を発売した。小型のICを高速かつ安定的にハンドリングし、ICの多ピン化にも対応した。

[MONOist]

　セイコーエプソンは2015年1月9日、ICの搬送・検査・選別を行う新型ICテストハンドラー「NS8040SH」を発売した。

　ICテストハンドラーは、IC製造の検査工程で、ICを検査装置に搬送して最終性能試験を行い、外観や電気的特性などから良品・不良品などのカテゴリーに分類する装置。1台の装置で、形状・ピン数などが異なるさまざまなICを扱うことができる。

　今回発売されたNS8040SHは、エプソン独自のロボット制御技術「スマートモーションコントロール」により、小型のICを高速かつ安定的にハンドリングできる。同社従来製品「NS8040」の基本機能を継承しつつ、ICの多ピン化に対応し、ICを検査用ソケットに押し込む標準加圧を1200Nに高めた。

　また、装置内部でICを搬送するハンドの構成は、直列に並んだ4個のICを同時検査する「Inline4サイト」と2×2の配列で並んだ4個のICを同時検査する「SQ4サイト」の2つの仕様に対応した。さらに、8個のICを同時検査する「8サイト」へのアップグレードにも対応している。

ICテストハンドラー「NS8040SH」

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