実際の駆動波形を再現! JFEテクノの「V-t試験」で材料の絶縁寿命予測研究開発の最前線

JFEテクノリサーチは、絶縁材料、部品の絶縁耐久性を評価する「矩形波印加による寿命評価」の受託サービスを開始した。高性能インバーターのスイッチング動作を模したパルス波電圧を用いて、幅広い環境条件下での試験に対応する。

» 2026年06月04日 11時00分 公開
[MONOist]

 JFEテクノリサーチは2026年5月19日、EVや産業機器向け絶縁材料、部品の絶縁耐久性を評価する「矩形波印加による寿命評価(Voltage-time testing、V-t試験)」の受託サービスを開始したと発表した。高性能インバーターのスイッチング動作を模したパルス波電圧を用いて、幅広い環境条件下での試験に対応する。

ポリアミドイミド被覆銅線のV-t試験による寿命予測 ポリアミドイミド被覆銅線のV-t試験による寿命予測[クリックで拡大] 出所:JFEテクノリサーチ

 同サービスは、立ち上がり時間150ns以下の高精度なパルス波形と正負交互の矩形波の連続印加により、実際のインバーター駆動波形を正確に再現する。サージ電圧や立ち上がり速度を精密に制御することで、実駆動環境に近い条件で絶縁破壊までの時間を評価する。

パルス波の波形イメージ パルス波の波形イメージ 出所:JFEテクノリサーチ
スイッチング波形の事例 スイッチング波形の事例 出所:JFEテクノリサーチ

 試験印加電圧は0〜±5kV、繰り返し周波数は0.1〜30kHz、最小パルス幅は300nsとなる。温度条件は−70〜+200℃で、減圧環境は300Paから、20〜98%RHの範囲で湿度をコントロールできる。幅広い環境条件を想定したV-t試験による絶縁寿命評価が可能だ。また、V-t試験結果から印加電圧と絶縁破壊時間の関係式を導き出し、実使用条件での寿命を高精度に予測する。

 サービス提供に当たり同社は、最新のV-t試験用高電圧パルス電源とさまざまな環境試験設備を新たに導入。高温から低温、減圧など、幅広い環境対応力を持つ受託評価サービスとして、モーター巻線や電動車用部材、パワーデバイス周辺材料などの絶縁技術開発を支援する。

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