　BGAパッケージの採用や狭ピッチデバイスを使用すると、部品の実装密度を上げ、小型化を促進し、開発コスト削減にもつながるが、その半面、これらの基板では端子状態の調査は大変困難となる。そこで、試作基板段階でテスト用のパターンをわざわざ引き回したり、基板のレントゲン検査を行ったりするわけだが、時間とコストが掛かる他、検査精度の低さに課題が残る。

　同製品と、同社のJTAGエミュレータ「EJSCATT」とを組み合わせて使用することで、デバイスの内部からJTAG経由で端子の状態を取得できる。EJSCATTをターゲットのJTAGコネクタに接続、またはJTAGコネクタに集約された形でない場合は、個々の信号端子をクリップして端子の状態を取得する。

接続イメージ（ホストPC：Windows XP／Vista／7）

　以下、端子状態の調査を支援する同製品の主な機能を示す。

デバイスの自動認識　
－各デバイスメーカーが提供するBSDL（Boundary Scan Described Language）情報を登録済み。JTAGチェーン上に接続されている各デバイスのIDを読み込んで自動認識
バウンダリスキャン・チェインをツリー表示　
－JTAGチェーン上の各デバイスを認識された順に表示　
－デバイス端子の内容（ポート名、ピン名、I/O）を表示
端子状態一覧表示　
－端子名と状態の一覧を表示。出力機能のある端子への一括信号出力
簡易ロジアナウィンドウによる端子状態の波形表示　
－バウンダリスキャン結果を波形表示。カーソル間の時間表示、拡大、縮小、波形データ保存などが行える
EJSCATTと連動したバウンダリスキャン同時実行　
－デバッガを動かしながらバウンダリスキャンチェックが可能。同時実行例としては、デバッガ側でステップ実行を行い、止めた際にスキャンをかけ、実際に信号が出力されているかどうかを確認することが可能
バウンダリスキャンに対応したBSDLファイルを公開している全てのデバイス（CPU、FPGAなど）に対応