NISTの1：N顔認証技術ベンチマークテストで世界第1位を獲得：人工知能ニュース

NECは、米国国立標準技術研究所（NIST）が実施した顔認証技術のベンチマークテスト「FRTE 1:N Identification」で世界第1位を獲得した。1200万人分の静止画を使用した「1：N認証」において、認証エラー率0.12％という第1位の性能評価を獲得した。

[MONOist]

　NECは2024年2月8日、米国国立標準技術研究所（NIST）が実施した顔認証技術のベンチマークテスト「Face Recognition Technology Evaluation（FRTE） 1:N Identification」で世界第1位を獲得したと発表した。

　同テストでは、1200万人分の静止画を使用した「1：N認証」（登録データベース上の複数人の顔情報と認証端末上の顔情報を照合し、ユーザーを本人認証する方式）において、認証エラー率0.12％という第1位の性能評価を獲得した。

　その他、撮影してから10年以上が経過した画像を使用して評価する経年変化テストを含めて、3つのテストでも第1位となった。FRTE 1:N Identificationの主要8項目全てにおいて、世界第3位以内にランクインしている。

　同社は、2009年に同テストに初めて参加。1：N認証テストでは、これまでも世界第1位の評価を複数回得ている。

　同社は今後、顔認証技術を中核とした生体認証「Bio-IDiom」のさらなる社会実装を目指す。顔認証技術と虹彩認証技術を用いたマルチモーダル生体認証やゲートレス生体認証などの開発、提供を進める。

加えて、分散型IDやブロックチェーンといったWeb3技術を用いた新事業への取り組みも進めていく。

今後の生体認証への取り組み［クリックで拡大］ 出所：NEC

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