長い通路を抜けると、そこはFCNTの地下実験室だった：イノベーションのレシピ（3/5 ページ）

[八木沢篤，MONOist]

　Vビット（鋭鉄）落下試験では、175gのおもりを60cmの高さから落とし、強度が弱いとされる筐体のフレーム部分とディスプレイの境目（ディスプレイの端）をめがけて、先端のとがった金属（鋭鉄）を打ち込む。筐体に傷がついたとしても、タッチパネル操作や表示に問題がないことを確認する。

（左）Vビット落下試験の装置／（右）試験に用いられる鋭鉄［クリックで拡大］

動画　Vビット落下試験のデモの様子（撮影：MONOist編集部）

フレーム部分に小さな傷が入ったものの、ディスプレイ部分は割れることなく無事だった［クリックで拡大］

　角曲げ試験は、スマートフォンの四隅のうち、1カ所にのみ負荷をかけるものだ。

　繰り返し落下試験は、10cmの高さから計1万2000回繰り返してスマートフォンを落下させる過酷な試験で、6面全てに対して行われる。これは、机にポンと投げるように置くような日常的な“雑な使用”を想定している。

繰り返し落下試験の装置［クリックで拡大］

　ねじり試験は、スマートフォンの上下を固定してひねるように負荷をかける試験で、点圧迫試験ではディスプレイの中央部に丸い金属棒を約25kgの力で押し当て、耐久性を評価する。

　ここで紹介したものはほんの一部であり、実際の試験項目は50〜70種類にも及ぶという。また、評価用の試験装置は30種類以上あるとのことだ。

その他にもたくさんの試験装置が並んでいた［クリックで拡大］