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米国の虹彩認証技術ベンチマークテストで世界第1位を獲得製造マネジメントニュース

NECは、NISTが実施する虹彩認証技術のベンチマークテストにおいて、世界第1位を獲得した。同社は顔認証技術においても1位を獲得しており、今後、両技術を生かしたマルチモーダル生体認証や、ウォークスルー型虹彩認証の展開を予定している。

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 NECは2021年9月2日、米国国立標準技術研究所(NIST)が実施する虹彩認証技術のベンチマークテスト(IREX 10)において、世界1位を獲得したと発表した。

 同テストでは、登録人数50万人を対象に、認証端末上の虹彩情報と登録データベース上の複数人の虹彩情報を照合して本人認証する「1:N認証」において、両目の場合の認証エラー率が0.41%と性能評価された。

 前回の16万人の虹彩画像データベースを用いたベンチマークテスト(IREX ?)では、本人の認証エラー率は0.67%だった。NECは、得意とするAI(人工知能)を活用した認証技術で、実用シーンで発生する多様な外部要因によって品質が低下した画像に対する頑健性を強化。これにより認証率を大幅に改善した。

 同社は、NISTが同年8月に実施した顔認証技術のベンチマークテストでも1位を獲得している。今後、高精度の顔認証技術と虹彩認証技術を組み合わせて数千万人規模の本人確認ができるマルチモーダル生体認証や、ウォークスルー型の虹彩認証を展開する予定だ。

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顔と虹彩によるマルチモーダル生体認証:入退と決済のイメージ(クリックで拡大) 出典:NEC
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ウォークスルー型虹彩認証:入退イメージ(クリックで拡大) 出典:NEC

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