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NECが米NISTの顔認証技術ベンチマークテストで1位を獲得製造マネジメントニュース

NECは、米国国立標準技術研究所(NIST)が実施した顔認証技術のベンチマークテスト「FRVT Ongoing」で、世界第1位を獲得した。大規模な「1:N認証」において、1200万人分の静止画の認証エラー率が0.22%と性能評価された。

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 NECは2021年8月23日、米国国立標準技術研究所(NIST)が実施した顔認証技術のベンチマークテスト「FRVT Ongoing」で世界第1位を獲得したと発表した。NISTのベンチマークテストでは2018年の顔認証ベンチマーク「FRVT2018」に続く第1位の獲得となった。

 今回のベンチマークテストでは、特にキャッシュレス決済などの金融サービスとIT技術などを掛け合わせたFinTech領域や、公共交通機関、オンライン世界での身分証明手段であるデジタルIDなどで活用される「1:N認証」における性能を試した。実社会では高精度性と大規模な運用への対応力が求められる。ベンチマークテストの結果、NECの技術は1200万人分の静止画の認証エラー率が0.22%と性能評価された。

 NECは新型コロナウイルス感染症の拡大から、マスク着用時でも対応する顔認証エンジンを開発、製品化している。こうした社会ニーズに即応するため、核となる顔認証アルゴリズムの性能向上を図り、同時に関連技術の開発と社会実装を進めていく。

 今後は、顔認証技術などの生体認証「Bio-IDiom」と映像分析などのAI(人工知能)技術群「NEC the WISE」を組み合わせて、FinTech領域や公共サービス、公共交通機関などの高い信頼性が求められるシーンでの活用拡大を目指す。

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高精度顔認証の利用シーン拡大(クリックで拡大) 出典:NEC

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