基板の目視検査を大幅効率化、インライン向け装置も投入へ：FAニュース

WITは「第37回エレクトロテストジャパン」において、基板の目視検査支援装置「AIP-4000」などを出展した。

[長沢正博，MONOist]

　WITは「第37回エレクトロテストジャパン」（2023年1月25〜27日、東京ビッグサイト）において、基板の目視検査支援装置「AIP-4000」などを出展した。

目視検査支援装置「AIP-4000」などを出展［クリックで拡大］

　プリント基板の検査にはAOI（自動光学検査）などの自動検査装置が用いられるが、それらで不良判定された箇所の多くは最終的に人の目視検査で特定されている。AOIなどは不良品の流出を避けるため、疑わしい場合はNGとする閾値になっているケースが多い。そのため、NGと判断された箇所が本当にNGなのかを人の目で判断するのだ。AIP-4000はその目視検査をサポートする。

　プリント基板を装置にセットすると、AOIのデータと連携して自動的にNGと判断された箇所の拡大画像が画面に映し出される。装置には真上と斜め上、2つの方向から基板を撮影するカメラがあり、NG箇所の倍率の変更だけでなく、回転も可能となっている。

「部品自体がずれていないかや、そもそも部品があるかどうかを見るのに真上からの画像は有効だが、はんだがしっかり付いているのかなどは横から見たい。そういう要望もあって、2つのカメラが付いている」（WIT）。

　OKかNGかの判定後は、自動的に次の箇所に画面は移動する。検査員がより直感的に動かせるように、専用のキーボードも用意している。インライン向けの目視検査支援装置「AIP-3000」も参考出展した。

目視検査支援装置「AIP-4000」（左）と、拡大した箇所は回転も可能（右）［クリックで拡大］

インライン向けの目視検査支援装置「AIP-3000」［クリックで拡大］

　基板修正支援端末「AIP-Repair」も展示した。AIPとの連携が可能となり、AIPで撮影した精細な判定画像を見ながらNG箇所の修理ができる。使用したはんだごてなどの各種のパラメーターが登録でき、最大8台のAIPと接続可能で、NGの判定から修理までを1つのデータベースに保存し、トレーサビリティーに活用できる。

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