AC-BTIの評価試験時間を最大75%短縮 OKIエンジが半導体試験サービスを強化:組み込み開発ニュース(2/2 ページ)
OKIエンジニアリングは、SiC(シリコンカーバイド)パワー半導体の固有劣化モードを評価する「AC-BTI(Alternating Current - Bias Temperature Instability)試験サービス」を2026年11月2日から強化すると発表した。同サービスで2027年度末までに累計売上高1億円を目指す。
試験時間を最大75%短縮可能な試験装置を新導入 「AQG 324」にも対応
このような背景からOKIエンジニアリングは、2024年9月からAC-BTI試験サービスを提供している。SiCパワー半導体の用途拡大に伴う顧客からの要望や、2025年に改定された欧州の車載用パワーモジュールを対象とする信頼性規格「AQG 324」の内容を受け、カスタムメイドの試験装置を新たに開発/導入した。これにより、幅広い試験条件への対応や多角的な特性把握が可能となった。
「AQG 324は2025年の規格改定でドレイン電圧印加条件での特性変動影響の確認が必要となった。この確認(試験)は非常に厄介で難しく、650V以上の高い電圧をかけるなど、モジュールへの負担を考慮し、安全な試験環境を確保する必要がある。そのため、顧客からも同規格に関する試験について問い合わせが多くなっている」(武井氏)
新しい試験装置を活用することで、SiC MOSFETのスイッチング動作を高速化でき、試験時間を従来に比べて最大75%短くすることに成功した。また、電子情報技術産業協会(JEITA)が発行する、化合物パワー半導体の信頼性試験方法に関するガイドライン「JEITA EDR-4713 Amend.1」に記載されている風力発電関連機器(パワーコンディショナー)相当の試験では、従来約231日を要していた試験期間を約58日に短縮した。
今後、OKIエンジニアリングはSiCパワー半導体向け信頼性試験/評価/解析メニューを拡充し、顧客の製品開発や品質保証に関するニーズに応える技術サービスを提供する。これらの取り組みを通じて、SiCパワー半導体の品質向上と普及を支援し、高効率な電力変換を支える製品の社会実装を促進させ、カーボンニュートラルの実現に貢献する方針だ。
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